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      雙向可控硅質量判別方法

      作者:佚名    文章來源:本站原創    點擊數:    更新時間:2009/9/2

      向可控硅質量好壞的判別:在已知各電極極性的條件下、將萬用電表置“R?”擋,黑表筆接G,紅表筆接T1、測得阻值為幾十歐姆(因功率不同,其阻值略有偏差),紅表筆改接T2.阻值應無窮大;

      然后再將黑表筆接T1,紅表筆接G,側得結果應為幾十歐、再將黑表筆改接T2,阻值也應無窮大;

      用兩只表筆測T1、T2兩極之間的電阻,再調換筆測一次,兩次測得的阻值均應為無窮大;

      測量結果若滿足上述要求,一般可以判定該器件是好的。

      如果G與T1之間的電阻等于零、或G與T2、T1與T2之間的電阻都很小,就表明器件內部已擊穿或短路,如果G與T1之間的電阻為無窮大,則表明器件內部斷路。

      Tags:可控硅,可控硅質量,判別  
      責任編輯:admin
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